Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Ngôn ngữ
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
Electron ptychography. I. Expe...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
Định dạng:
Journal article
Được phát hành:
1998
Đang giữ
Miêu tả
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Những quyển sách tương tự
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
Bằng: Allen, CS, et al.
Được phát hành: (2023)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
Bằng: Pennycook, TJ, et al.
Được phát hành: (2018)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
Bằng: D'Alfonso, A, et al.
Được phát hành: (2014)