Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
GETTERING OF COPPER AND IRON T...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
GETTERING OF COPPER AND IRON TO EXTENDED SURFACE-DEFECTS IN SILICON
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
Decoteau, M
,
Wilshaw, P
,
Falster, R
Formaat:
Conference item
Gepubliceerd in:
1992
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
Omschrijving
Samenvatting:
Gelijkaardige items
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
door: Decoteau, M, et al.
Gepubliceerd in: (1991)
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
door: Decoteau, M, et al.
Gepubliceerd in: (1991)
PRECIPITATION OF IRON IN SILICON - GETTERING TO EXTENDED SURFACE DEFECT SITES
door: Decoteau, M, et al.
Gepubliceerd in: (1991)
GETTERING OF COPPER TO OXIDATION INDUCED STACKING-FAULTS IN SILICON
door: Decoteau, M, et al.
Gepubliceerd in: (1990)
GETTERING IN SILICON
door: Falster, R
Gepubliceerd in: (1989)