Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
GETTERING OF COPPER AND IRON T...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
GETTERING OF COPPER AND IRON TO EXTENDED SURFACE-DEFECTS IN SILICON
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:
Decoteau, M
,
Wilshaw, P
,
Falster, R
Médium:
Conference item
Vydáno:
1992
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Podobné jednotky
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
Autor: Decoteau, M, a další
Vydáno: (1991)
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
Autor: Decoteau, M, a další
Vydáno: (1991)
PRECIPITATION OF IRON IN SILICON - GETTERING TO EXTENDED SURFACE DEFECT SITES
Autor: Decoteau, M, a další
Vydáno: (1991)
GETTERING OF COPPER TO OXIDATION INDUCED STACKING-FAULTS IN SILICON
Autor: Decoteau, M, a další
Vydáno: (1990)
GETTERING IN SILICON
Autor: Falster, R
Vydáno: (1989)