Saltar al contenido
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Lenguaje
Todos los Campos
Título
Autor
Materia
Número de Clasificación
ISBN/ISSN
Etiqueta
Buscar
Avanzado
GETTERING OF COPPER AND IRON T...
Citar
Describir
Enviar este por Correo electrónico
Imprimir
Exportar Registro
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enlace Permanente
GETTERING OF COPPER AND IRON TO EXTENDED SURFACE-DEFECTS IN SILICON
Detalles Bibliográficos
Autores principales:
Decoteau, M
,
Wilshaw, P
,
Falster, R
Formato:
Conference item
Publicado:
1992
Existencias
Descripción
Ejemplares similares
Vista Equipo
Ejemplares similares
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
por: Decoteau, M, et al.
Publicado: (1991)
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
por: Decoteau, M, et al.
Publicado: (1991)
PRECIPITATION OF IRON IN SILICON - GETTERING TO EXTENDED SURFACE DEFECT SITES
por: Decoteau, M, et al.
Publicado: (1991)
GETTERING OF COPPER TO OXIDATION INDUCED STACKING-FAULTS IN SILICON
por: Decoteau, M, et al.
Publicado: (1990)
GETTERING IN SILICON
por: Falster, R
Publicado: (1989)