Preskoči na sadržaj
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Sva polja
Naslov
Autor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Pronađi
Napredno
GETTERING OF COPPER AND IRON T...
Citiraj ovo
Pošalji tekstualnu poruku
Pošalji ovo e-mailom
Ispiši
Izvezi zapis
Izvezi u RefWorks
Izvezi u EndNoteWeb
Izvezi u EndNote
Stalna poveznica
GETTERING OF COPPER AND IRON TO EXTENDED SURFACE-DEFECTS IN SILICON
Bibliografski detalji
Glavni autori:
Decoteau, M
,
Wilshaw, P
,
Falster, R
Format:
Conference item
Izdano:
1992
Primjerci
Opis
Slični predmeti
Prikaz za djelatnike knjižnice
Slični predmeti
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
od: Decoteau, M, i dr.
Izdano: (1991)
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
od: Decoteau, M, i dr.
Izdano: (1991)
PRECIPITATION OF IRON IN SILICON - GETTERING TO EXTENDED SURFACE DEFECT SITES
od: Decoteau, M, i dr.
Izdano: (1991)
GETTERING OF COPPER TO OXIDATION INDUCED STACKING-FAULTS IN SILICON
od: Decoteau, M, i dr.
Izdano: (1990)
GETTERING IN SILICON
od: Falster, R
Izdano: (1989)