Kraus, H., Mikhailik, V., Day, D., Hutton, K., Telfer, J., & Ramachers, Y. (2005). Exploiting the materials signature in cryogenic WIMP detectors.
Citação norma ChicagoKraus, H., V. Mikhailik, D. Day, K. Hutton, J. Telfer, and Y. Ramachers. Exploiting the Materials Signature in Cryogenic WIMP Detectors. 2005.
Citação norma MLAKraus, H., et al. Exploiting the Materials Signature in Cryogenic WIMP Detectors. 2005.
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