SURFACE-ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE

SURFACE-ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE

A position-sensitive detector has been combined with time-of-flight mass spectrometry in a short-flight-path atom probe to yield an instrument in which both the chemical identity and surface position are obtained for individual atoms removed by field evaporation from the surface of a field-ion speci...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:	Cerezo, A, Godfrey, T, Grovenor, C, Smith, G
Định dạng:	Journal article
Ngôn ngữ:	English
Được phát hành:	1989

Những quyển sách tương tự

MATERIALS ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1989)

DEVELOPMENT AND INITIAL APPLICATIONS OF A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1988)

APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE DETECTOR TO ATOM PROBE MICROANALYSIS
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1988)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTI-QUANTUM-WELL STRUCTURES
Bằng: Liddle, J, et al.
Được phát hành: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTIPLE QUANTUM-WELL STRUCTURES
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTIPLE QUANTUM-WELL STRUCTURES
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1989)

RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
Bằng: Smith, G, et al.
Được phát hành: (1994)

STRUCTURAL-ANALYSIS WITH THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Bằng: Hetherington, M, et al.
Được phát hành: (1992)

APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE TO THE ANALYSIS OF THE CHEMISTRY AND MORPHOLOGY OF MULTI-QUANTUM-WELL INTERFACES
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE AND STEM ANALYSIS OF THE MICROCHEMISTRY OF GAINAS/INP QUANTUM WELLS
Bằng: Liddle, J, et al.
Được phát hành: (1989)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1992)

APPLICATION OF POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE TO THE STUDY OF THE MICROCHEMISTRY AND MORPHOLOGY OF QUANTUM WELL INTERFACES
Bằng: Liddle, J, et al.
Được phát hành: (1989)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF GAAS AND INAS
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1985)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1986)

THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE - RECONSTRUCTION OF THE ATOMIC CHEMISTRY OF SOLIDS IN 3-DIMENSIONS (SUMMARY)
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1991)

ATOM PROBE ANALYSIS OF A CERAMIC OXIDE SUPERCONDUCTOR
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1988)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTORS
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1986)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1987)

RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1985)

LATERAL AND DEPTH SCALE CALIBRATION OF THE POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE
Bằng: Hyde, J, et al.
Được phát hành: (1994)

THE CHARACTERIZATION OF SILICON SURFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE ANALYSIS
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1982)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1983)

ATOM PROBE STUDIES OF THE COMPOSITION OF LOW-TEMPERATURE OXIDES ON (100) SILICON AND GALLIUM-ARSENIDE SURFACES
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1989)

ANALYSIS OF NANOMETER-SIZED PRECIPITATES USING ATOM PROBE TECHNIQUES
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1990)

AN ELECTRONIC AND COMPUTER-SYSTEM FOR AN AUTOMATED ATOM PROBE
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1984)

Improvements in the mass resolution of the three-dimensional atom probe
Bằng: Sijbrandij, S, et al.
Được phát hành: (1996)

Studies of boundaries and interfaces on the atomic scale by atom probe FIM
Bằng: Smith, G, et al.
Được phát hành: (1998)

1990 BURCH,C.R. PRIZE - JOINT AWARD - THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Bằng: Cerezo, A
Được phát hành: (1991)

IMPROVEMENTS IN 3-DIMENSIONAL ATOM-PROBE DESIGN
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1994)

Design of a scanning atom probe with improved mass resolution
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (2000)

POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE STUDY OF THE DECOMPOSITION OF A CU-2.6AT-PERCENT-CO ALLOY
Bằng: Setna, R, et al.
Được phát hành: (1993)

Automobile exhaust catalysis at the atomic scale: atom-probe investigations on platinum alloys
Bằng: Bagot, P, et al.
Được phát hành: (2007)

Performance of an energy-compensated three-dimensional atom probe
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1998)

Applications of a high-resolution three dimensional atom probe
Bằng: Smith, G, et al.
Được phát hành: (1997)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
Bằng: Mackenzie, R, et al.
Được phát hành: (1990)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF TERNARY AND QUATERNARY III-V EPITAXIAL LAYERS
Bằng: Liddle, J, et al.
Được phát hành: (1988)

Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (2001)

QUANTITATIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF SPINODAL REACTION IN FERRITE PHASE OF DUPLEX STAINLESS-STEEL
Bằng: Brown, J, et al.
Được phát hành: (1990)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE STUDIES OF THE COMPOSITION OF OMEGA AND THETA' PRECIPITATES IN AL-CU-MG-AG ALLOYS
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1989)

STATISTICAL-ANALYSIS OF ATOM PROBE DATA
Bằng: Hetherington, M, et al.
Được phát hành: (1986)