Saltar ao contenido
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Todos os campos
Title
Autor
Subject
Número de Clasificación
ISBN/ISSN
Tag
Buscar
Avanzado
Nanoscale imaging of mechanica...
Citar
Text this
Enviar este rexistro por email
Imprimir
Exportar rexistro
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Permanent link
היצוא הצליח —
Nanoscale imaging of mechanical properties by ultrasonic force microscopy (UFM)
Detalles Bibliográficos
Main Authors:
Kolosov, O
,
Briggs, G
,
Yamanaka, K
,
Arnold, W
Formato:
Conference item
Publicado:
1996
Existencias
Descripción
Títulos similares
Staff View
Títulos similares
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
por: Dinelli, F, et al.
Publicado: (1999)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
por: Dinelli, F, et al.
Publicado: (1999)
Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
por: Dinelli, F, et al.
Publicado: (2000)
Mapping surface elastic properties of stiff and compliant materials on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
por: Dinelli, F, et al.
Publicado: (2000)
Characterisation of the nanometer-scale mechanical compliance of semiconductors by Ultrasonic Force Microscopy
por: Huey, B, et al.
Publicado: (2001)