RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.

RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.

Pulsed Laser Atom Probe (PLAP) analysis has recently been applied to a range of semiconductor samples in Oxford. It has been shown for the first time that the stoichiometry of III-V semiconductors and of thin amorphous silicon layers, can be accurately analysed by the use of the PLAP. The compositio...

Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:	Grovenor, C, Cerezo, A, Smith, G
Materyal Türü:	Journal article
Dil:	English
Baskı/Yayın Bilgisi:	1985

Benzer Materyaller

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Yazar:: Grovenor, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1983)

RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
Yazar:: Grovenor, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1990)

RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
Yazar:: Grovenor, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1990)

RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
Yazar:: Smith, G, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1994)

Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1994)

APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE DETECTOR TO ATOM PROBE MICROANALYSIS
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1988)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1986)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Yazar:: Grovenor, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1987)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTORS
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1986)

APPLICATIONS OF ATOM-PROBE MICROANALYSIS IN MATERIALS SCIENCE
Yazar:: Miller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1994)

QUANTITATIVE STUDY OF SOLID-STATE REACTIONS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
Yazar:: Smith, G
Baskı/Yayın Bilgisi: (1987)

TRACE-ELEMENT DETECTION AT THE ATOMIC LEVEL BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
Yazar:: Beaven, P, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1980)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
Yazar:: Godfrey, T, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1989)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
Yazar:: Mackenzie, R, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1990)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF NB3SN WIRES
Yazar:: Rose, J, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1986)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF GAAS AND INAS
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1985)

Microanalysis at the atomic level
Yazar:: Pennycook, S, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1995)

Optimisation of mass ranging for atom probe microanalysis and application to the corrosion processes in Zr alloys.
Yazar:: Hudson, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

SURFACE-ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1989)

Accuracy of pulsed laser atom probe tomography for compound semiconductor analysis
Yazar:: Mueller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Compositional nonuniformities in pulsed laser atom probe tomography analysis of compound semiconductors
Yazar:: Mueller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)

ATOM PROBE ANALYSIS OF A CERAMIC OXIDE SUPERCONDUCTOR
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1988)

Nanoscale characterization of compound semiconductors using laser-pulsed atom probe tomography
Yazar:: Müller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)

Nanoscale characterization of compound semiconductors using laser-pulsed atom probe tomography
Yazar:: Muller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)

ATOM PROBE STUDIES OF THE COMPOSITION OF LOW-TEMPERATURE OXIDES ON (100) SILICON AND GALLIUM-ARSENIDE SURFACES
Yazar:: Grovenor, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTI-QUANTUM-WELL STRUCTURES
Yazar:: Liddle, J, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTIPLE QUANTUM-WELL STRUCTURES
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTIPLE QUANTUM-WELL STRUCTURES
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1989)

ULTRAHIGH RESOLUTION CHARACTERIZATION OF COMPOUND SEMICONDUCTORS USING PULSED LASER ATOM PROBE TECHNIQUES
Yazar:: Mackenzie, R, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1991)

ANALYSIS OF NANOMETER-SIZED PRECIPITATES USING ATOM PROBE TECHNIQUES
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1990)

CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING
Yazar:: Glaisher, R, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1993)

Quantitative Analysis of Be in Herderite by Electron Probe Microanalysis
Yazar:: Ze LIU, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2024-09-01)

APPLICATION OF POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE TO THE STUDY OF THE MICROCHEMISTRY AND MORPHOLOGY OF QUANTUM WELL INTERFACES
Yazar:: Liddle, J, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1989)

Overview: Recent progress in three-dimensional atom probe instruments and applications
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

Overview: recent progress in three-dimensional atom probe instruments and applications.
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

MATERIALS ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1989)

APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE TO THE ANALYSIS OF THE CHEMISTRY AND MORPHOLOGY OF MULTI-QUANTUM-WELL INTERFACES
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1989)

DEVELOPMENT AND INITIAL APPLICATIONS OF A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1988)

Studies of boundaries and interfaces on the atomic scale by atom probe FIM
Yazar:: Smith, G, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1998)

THE CHARACTERIZATION OF SILICON SURFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE ANALYSIS
Yazar:: Grovenor, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1982)