Zheng, R., Moody, M., Gault, B., Liu, Z., Liu, H., & Ringer, S. (2009). On the understanding of the microscopic origin of the properties of diluted magnetic semiconductors by atom probe tomography.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Zheng, R., M. Moody, B. Gault, Z. Liu, H. Liu, i S. Ringer. On the Understanding of the Microscopic Origin of the Properties of Diluted Magnetic Semiconductors by Atom Probe Tomography. 2009.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Zheng, R., et al. On the Understanding of the Microscopic Origin of the Properties of Diluted Magnetic Semiconductors by Atom Probe Tomography. 2009.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..