Zheng, R., Moody, M., Gault, B., Liu, Z., Liu, H., & Ringer, S. (2009). On the understanding of the microscopic origin of the properties of diluted magnetic semiconductors by atom probe tomography.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Zheng, R., M. Moody, B. Gault, Z. Liu, H. Liu, e S. Ringer. On the Understanding of the Microscopic Origin of the Properties of Diluted Magnetic Semiconductors by Atom Probe Tomography. 2009.
Citação MLA (9ª ed.)Zheng, R., et al. On the Understanding of the Microscopic Origin of the Properties of Diluted Magnetic Semiconductors by Atom Probe Tomography. 2009.
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