On the understanding of the microscopic origin of the properties of diluted magnetic semiconductors by atom probe tomography

On the understanding of the microscopic origin of the properties of diluted magnetic semiconductors by atom probe tomography

Spintronics, in which both the spin and charge of electrons are used for logic and memory operations, promises to revolutionize the current information technology. Just as silicon supports microelectronics, diluted magnetic semiconductors (DMSs) will be the platform of spintronics. Ideal DMSs should...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	Zheng, R, Moody, M, Gault, B, Liu, Z, Liu, H, Ringer, S
التنسيق:	Journal article
اللغة:	English
منشور في:	2009

مواد مشابهة

Atom Probe Tomography at The University of Sydney
حسب: Gault, B, وآخرون
منشور في: (2008)

Impact of laser pulsing on the reconstruction in an atom probe tomography.
حسب: Gault, B, وآخرون
منشور في: (2010)

Estimation of the reconstruction parameters for atom probe tomography
حسب: Gault, B, وآخرون
منشور في: (2008)

Origin of the spatial resolution in atom probe microscopy
حسب: Gault, B, وآخرون
منشور في: (2009)

Spatial resolution in atom probe tomography.
حسب: Gault, B, وآخرون
منشور في: (2010)

Atom probe crystallography
حسب: Gault, B, وآخرون
منشور في: (2012)

Dynamic reconstruction for atom probe tomography.
حسب: Gault, B, وآخرون
منشور في: (2011)

Lattice rectification in atom probe tomography: toward true three-dimensional atomic microscopy.
حسب: Moody, M, وآخرون
منشور في: (2011)

Introduction: Special issue on atom probe tomography
حسب: Ringer, S, وآخرون
منشور في: (2007)

Accuracy of pulsed laser atom probe tomography for compound semiconductor analysis
حسب: Mueller, M, وآخرون
منشور في: (2011)

Applications of spatial distribution maps for advanced atom probe reconstruction and data analysis
حسب: Moody, M, وآخرون
منشور في: (2009)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
حسب: Stephenson, LT, وآخرون
منشور في: (2011)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
حسب: Stephenson, LT, وآخرون
منشور في: (2010)

Contingency table techniques for three dimensional atom probe tomography.
حسب: Moody, M, وآخرون
منشور في: (2007)

Influence of surface migration on the spatial resolution of pulsed laser atom probe tomography
حسب: Gault, B, وآخرون
منشور في: (2010)

Compositional nonuniformities in pulsed laser atom probe tomography analysis of compound semiconductors
حسب: Mueller, M, وآخرون
منشور في: (2012)

Influence of the wavelength on the spatial resolution of pulsed-laser atom probe
حسب: Gault, B, وآخرون
منشور في: (2011)

Atom probe crystallography: Atomic-scale 3-D orientation mapping
حسب: Araullo-Peters, V, وآخرون
منشور في: (2012)

Qualification of the tomographic reconstruction in atom probe by advanced spatial distribution map techniques.
حسب: Moody, M, وآخرون
منشور في: (2009)

Atom probe crystallography: characterization of grain boundary orientation relationships in nanocrystalline aluminium.
حسب: Moody, M, وآخرون
منشور في: (2011)

Quantitative binomial distribution analyses of nanoscale like-solute atom clustering and segregation in atom probe tomography data.
حسب: Moody, M, وآخرون
منشور في: (2008)

Advances in the reconstruction of atom probe tomography data.
حسب: Gault, B, وآخرون
منشور في: (2011)

Atom Probe Microscopy /
حسب: Gault, Baptiste author 632642, وآخرون
منشور في: (2012)

Reflections on the analysis of interfaces and grain boundaries by atom probe tomography
حسب: Jenkins, BM, وآخرون
منشور في: (2020)

Challenges Associated with the Characterisation of Nanocrystalline Materials using Atom Probe Tomography
حسب: Tang, F, وآخرون
منشور في: (2010)

Probing the magnetic profile of diluted magnetic semiconductors using polarized neutron reflectivity
حسب: X. Luo, وآخرون
منشور في: (2017-07-01)

New techniques for the analysis of fine-scaled clustering phenomena within atom probe tomography (APT) data.
حسب: Stephenson, LT, وآخرون
منشور في: (2007)

Theory of solute clustering in materials for atom probe
حسب: Stephenson, LT, وآخرون
منشور في: (2011)

Statistical tools for the local electrode atom probe
حسب: Moody, M, وآخرون
منشور في: (2006)

Spatial decomposition of molecular ions within 3D atom probe reconstructions.
حسب: Breen, A, وآخرون
منشور في: (2013)

Bringing atom probe tomography to transmission electron microscopes
حسب: Gerald Da Costa, وآخرون
منشور في: (2024-11-01)

Overcoming challenges in the study of nitrided microalloyed steels using atom probe.
حسب: Xie, K, وآخرون
منشور في: (2012)

diluted magnetic semiconductors /
حسب: Furdyna, Jacek K., وآخرون
منشور في: (1988)

Advances in the calibration of atom probe tomographic reconstruction
حسب: Gault, B, وآخرون
منشور في: (2009)

Restoring the lattice of Si-based atom probe reconstructions for enhanced information on dopant positioning.
حسب: Breen, A, وآخرون
منشور في: (2015)

Modeling and simulation in atom probe tomography
حسب: Larson, D, وآخرون
منشور في: (2019)

Mining information from atom probe data
حسب: Cairney, J, وآخرون
منشور في: (2015)

Effect of Sn Addition in Preprecipitation Stage in Al-Cu Alloys: A Correlative Transmission Electron Microscopy and Atom Probe Tomography Study
حسب: Homma, T, وآخرون
منشور في: (2012)

Origins of the hydrogen signal in atom probe tomography: case studies of alkali and noble metals
حسب: Su-Hyun Yoo, وآخرون
منشور في: (2022-01-01)

Tomographic Reconstruction in Atom Probe Microscopy: Past, Present ... Future?
حسب: Gault, B, وآخرون
منشور في: (2009)