On the understanding of the microscopic origin of the properties of diluted magnetic semiconductors by atom probe tomography

On the understanding of the microscopic origin of the properties of diluted magnetic semiconductors by atom probe tomography

Spintronics, in which both the spin and charge of electrons are used for logic and memory operations, promises to revolutionize the current information technology. Just as silicon supports microelectronics, diluted magnetic semiconductors (DMSs) will be the platform of spintronics. Ideal DMSs should...

Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:	Zheng, R, Moody, M, Gault, B, Liu, Z, Liu, H, Ringer, S
Médium:	Journal article
Jazyk:	English
Vydáno:	2009

Podobné jednotky

Atom Probe Tomography at The University of Sydney
Autor: Gault, B, a další
Vydáno: (2008)

Impact of laser pulsing on the reconstruction in an atom probe tomography.
Autor: Gault, B, a další
Vydáno: (2010)

Estimation of the reconstruction parameters for atom probe tomography
Autor: Gault, B, a další
Vydáno: (2008)

Origin of the spatial resolution in atom probe microscopy
Autor: Gault, B, a další
Vydáno: (2009)

Spatial resolution in atom probe tomography.
Autor: Gault, B, a další
Vydáno: (2010)

Atom probe crystallography
Autor: Gault, B, a další
Vydáno: (2012)

Dynamic reconstruction for atom probe tomography.
Autor: Gault, B, a další
Vydáno: (2011)

Lattice rectification in atom probe tomography: toward true three-dimensional atomic microscopy.
Autor: Moody, M, a další
Vydáno: (2011)

Introduction: Special issue on atom probe tomography
Autor: Ringer, S, a další
Vydáno: (2007)

Accuracy of pulsed laser atom probe tomography for compound semiconductor analysis
Autor: Mueller, M, a další
Vydáno: (2011)

Applications of spatial distribution maps for advanced atom probe reconstruction and data analysis
Autor: Moody, M, a další
Vydáno: (2009)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
Autor: Stephenson, LT, a další
Vydáno: (2011)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
Autor: Stephenson, LT, a další
Vydáno: (2010)

Contingency table techniques for three dimensional atom probe tomography.
Autor: Moody, M, a další
Vydáno: (2007)

Influence of surface migration on the spatial resolution of pulsed laser atom probe tomography
Autor: Gault, B, a další
Vydáno: (2010)

Compositional nonuniformities in pulsed laser atom probe tomography analysis of compound semiconductors
Autor: Mueller, M, a další
Vydáno: (2012)

Influence of the wavelength on the spatial resolution of pulsed-laser atom probe
Autor: Gault, B, a další
Vydáno: (2011)

Atom probe crystallography: Atomic-scale 3-D orientation mapping
Autor: Araullo-Peters, V, a další
Vydáno: (2012)

Qualification of the tomographic reconstruction in atom probe by advanced spatial distribution map techniques.
Autor: Moody, M, a další
Vydáno: (2009)

Atom probe crystallography: characterization of grain boundary orientation relationships in nanocrystalline aluminium.
Autor: Moody, M, a další
Vydáno: (2011)

Quantitative binomial distribution analyses of nanoscale like-solute atom clustering and segregation in atom probe tomography data.
Autor: Moody, M, a další
Vydáno: (2008)

Advances in the reconstruction of atom probe tomography data.
Autor: Gault, B, a další
Vydáno: (2011)

Atom Probe Microscopy /
Autor: Gault, Baptiste author 632642, a další
Vydáno: (2012)

Reflections on the analysis of interfaces and grain boundaries by atom probe tomography
Autor: Jenkins, BM, a další
Vydáno: (2020)

Challenges Associated with the Characterisation of Nanocrystalline Materials using Atom Probe Tomography
Autor: Tang, F, a další
Vydáno: (2010)

Probing the magnetic profile of diluted magnetic semiconductors using polarized neutron reflectivity
Autor: X. Luo, a další
Vydáno: (2017-07-01)

New techniques for the analysis of fine-scaled clustering phenomena within atom probe tomography (APT) data.
Autor: Stephenson, LT, a další
Vydáno: (2007)

Theory of solute clustering in materials for atom probe
Autor: Stephenson, LT, a další
Vydáno: (2011)

Statistical tools for the local electrode atom probe
Autor: Moody, M, a další
Vydáno: (2006)

Spatial decomposition of molecular ions within 3D atom probe reconstructions.
Autor: Breen, A, a další
Vydáno: (2013)

Bringing atom probe tomography to transmission electron microscopes
Autor: Gerald Da Costa, a další
Vydáno: (2024-11-01)

Overcoming challenges in the study of nitrided microalloyed steels using atom probe.
Autor: Xie, K, a další
Vydáno: (2012)

diluted magnetic semiconductors /
Autor: Furdyna, Jacek K., a další
Vydáno: (1988)

Advances in the calibration of atom probe tomographic reconstruction
Autor: Gault, B, a další
Vydáno: (2009)

Restoring the lattice of Si-based atom probe reconstructions for enhanced information on dopant positioning.
Autor: Breen, A, a další
Vydáno: (2015)

Modeling and simulation in atom probe tomography
Autor: Larson, D, a další
Vydáno: (2019)

Mining information from atom probe data
Autor: Cairney, J, a další
Vydáno: (2015)

Effect of Sn Addition in Preprecipitation Stage in Al-Cu Alloys: A Correlative Transmission Electron Microscopy and Atom Probe Tomography Study
Autor: Homma, T, a další
Vydáno: (2012)

Origins of the hydrogen signal in atom probe tomography: case studies of alkali and noble metals
Autor: Su-Hyun Yoo, a další
Vydáno: (2022-01-01)

Tomographic Reconstruction in Atom Probe Microscopy: Past, Present ... Future?
Autor: Gault, B, a další
Vydáno: (2009)