On the understanding of the microscopic origin of the properties of diluted magnetic semiconductors by atom probe tomography

On the understanding of the microscopic origin of the properties of diluted magnetic semiconductors by atom probe tomography

Spintronics, in which both the spin and charge of electrons are used for logic and memory operations, promises to revolutionize the current information technology. Just as silicon supports microelectronics, diluted magnetic semiconductors (DMSs) will be the platform of spintronics. Ideal DMSs should...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:	Zheng, R, Moody, M, Gault, B, Liu, Z, Liu, H, Ringer, S
Ձևաչափ:	Journal article
Լեզու:	English
Հրապարակվել է:	2009

Նմանատիպ նյութեր

Atom Probe Tomography at The University of Sydney
‌: Gault, B, և այլն
Հրապարակվել է: (2008)

Impact of laser pulsing on the reconstruction in an atom probe tomography.
‌: Gault, B, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

Estimation of the reconstruction parameters for atom probe tomography
‌: Gault, B, և այլն
Հրապարակվել է: (2008)

Origin of the spatial resolution in atom probe microscopy
‌: Gault, B, և այլն
Հրապարակվել է: (2009)

Spatial resolution in atom probe tomography.
‌: Gault, B, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

Atom probe crystallography
‌: Gault, B, և այլն
Հրապարակվել է: (2012)

Dynamic reconstruction for atom probe tomography.
‌: Gault, B, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)

Lattice rectification in atom probe tomography: toward true three-dimensional atomic microscopy.
‌: Moody, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)

Introduction: Special issue on atom probe tomography
‌: Ringer, S, և այլն
Հրապարակվել է: (2007)

Accuracy of pulsed laser atom probe tomography for compound semiconductor analysis
‌: Mueller, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)

Applications of spatial distribution maps for advanced atom probe reconstruction and data analysis
‌: Moody, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2009)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
‌: Stephenson, LT, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
‌: Stephenson, LT, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

Contingency table techniques for three dimensional atom probe tomography.
‌: Moody, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2007)

Influence of surface migration on the spatial resolution of pulsed laser atom probe tomography
‌: Gault, B, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

Compositional nonuniformities in pulsed laser atom probe tomography analysis of compound semiconductors
‌: Mueller, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2012)

Influence of the wavelength on the spatial resolution of pulsed-laser atom probe
‌: Gault, B, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)

Atom probe crystallography: Atomic-scale 3-D orientation mapping
‌: Araullo-Peters, V, և այլն
Հրապարակվել է: (2012)

Qualification of the tomographic reconstruction in atom probe by advanced spatial distribution map techniques.
‌: Moody, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2009)

Atom probe crystallography: characterization of grain boundary orientation relationships in nanocrystalline aluminium.
‌: Moody, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)

Quantitative binomial distribution analyses of nanoscale like-solute atom clustering and segregation in atom probe tomography data.
‌: Moody, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2008)

Advances in the reconstruction of atom probe tomography data.
‌: Gault, B, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)

Atom Probe Microscopy /
‌: Gault, Baptiste author 632642, և այլն
Հրապարակվել է: (2012)

Reflections on the analysis of interfaces and grain boundaries by atom probe tomography
‌: Jenkins, BM, և այլն
Հրապարակվել է: (2020)

Challenges Associated with the Characterisation of Nanocrystalline Materials using Atom Probe Tomography
‌: Tang, F, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

Probing the magnetic profile of diluted magnetic semiconductors using polarized neutron reflectivity
‌: X. Luo, և այլն
Հրապարակվել է: (2017-07-01)

New techniques for the analysis of fine-scaled clustering phenomena within atom probe tomography (APT) data.
‌: Stephenson, LT, և այլն
Հրապարակվել է: (2007)

Theory of solute clustering in materials for atom probe
‌: Stephenson, LT, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)

Statistical tools for the local electrode atom probe
‌: Moody, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)

Spatial decomposition of molecular ions within 3D atom probe reconstructions.
‌: Breen, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Bringing atom probe tomography to transmission electron microscopes
‌: Gerald Da Costa, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-11-01)

Overcoming challenges in the study of nitrided microalloyed steels using atom probe.
‌: Xie, K, և այլն
Հրապարակվել է: (2012)

diluted magnetic semiconductors /
‌: Furdyna, Jacek K., և այլն
Հրապարակվել է: (1988)

Advances in the calibration of atom probe tomographic reconstruction
‌: Gault, B, և այլն
Հրապարակվել է: (2009)

Restoring the lattice of Si-based atom probe reconstructions for enhanced information on dopant positioning.
‌: Breen, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2015)

Modeling and simulation in atom probe tomography
‌: Larson, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2019)

Mining information from atom probe data
‌: Cairney, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2015)

Effect of Sn Addition in Preprecipitation Stage in Al-Cu Alloys: A Correlative Transmission Electron Microscopy and Atom Probe Tomography Study
‌: Homma, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2012)

Origins of the hydrogen signal in atom probe tomography: case studies of alkali and noble metals
‌: Su-Hyun Yoo, և այլն
Հրապարակվել է: (2022-01-01)

Tomographic Reconstruction in Atom Probe Microscopy: Past, Present ... Future?
‌: Gault, B, և այլն
Հրապարակվել է: (2009)