On the understanding of the microscopic origin of the properties of diluted magnetic semiconductors by atom probe tomography

On the understanding of the microscopic origin of the properties of diluted magnetic semiconductors by atom probe tomography

Spintronics, in which both the spin and charge of electrons are used for logic and memory operations, promises to revolutionize the current information technology. Just as silicon supports microelectronics, diluted magnetic semiconductors (DMSs) will be the platform of spintronics. Ideal DMSs should...

Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:	Zheng, R, Moody, M, Gault, B, Liu, Z, Liu, H, Ringer, S
Materyal Türü:	Journal article
Dil:	English
Baskı/Yayın Bilgisi:	2009

Benzer Materyaller

Atom Probe Tomography at The University of Sydney
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)

Impact of laser pulsing on the reconstruction in an atom probe tomography.
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)

Estimation of the reconstruction parameters for atom probe tomography
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)

Origin of the spatial resolution in atom probe microscopy
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)

Spatial resolution in atom probe tomography.
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)

Atom probe crystallography
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)

Dynamic reconstruction for atom probe tomography.
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Lattice rectification in atom probe tomography: toward true three-dimensional atomic microscopy.
Yazar:: Moody, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Introduction: Special issue on atom probe tomography
Yazar:: Ringer, S, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

Accuracy of pulsed laser atom probe tomography for compound semiconductor analysis
Yazar:: Mueller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Applications of spatial distribution maps for advanced atom probe reconstruction and data analysis
Yazar:: Moody, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
Yazar:: Stephenson, LT, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
Yazar:: Stephenson, LT, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)

Contingency table techniques for three dimensional atom probe tomography.
Yazar:: Moody, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

Influence of surface migration on the spatial resolution of pulsed laser atom probe tomography
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)

Compositional nonuniformities in pulsed laser atom probe tomography analysis of compound semiconductors
Yazar:: Mueller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)

Influence of the wavelength on the spatial resolution of pulsed-laser atom probe
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Atom probe crystallography: Atomic-scale 3-D orientation mapping
Yazar:: Araullo-Peters, V, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)

Qualification of the tomographic reconstruction in atom probe by advanced spatial distribution map techniques.
Yazar:: Moody, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)

Atom probe crystallography: characterization of grain boundary orientation relationships in nanocrystalline aluminium.
Yazar:: Moody, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Quantitative binomial distribution analyses of nanoscale like-solute atom clustering and segregation in atom probe tomography data.
Yazar:: Moody, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)

Advances in the reconstruction of atom probe tomography data.
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Atom Probe Microscopy /
Yazar:: Gault, Baptiste author 632642, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)

Reflections on the analysis of interfaces and grain boundaries by atom probe tomography
Yazar:: Jenkins, BM, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2020)

Challenges Associated with the Characterisation of Nanocrystalline Materials using Atom Probe Tomography
Yazar:: Tang, F, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)

Probing the magnetic profile of diluted magnetic semiconductors using polarized neutron reflectivity
Yazar:: X. Luo, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2017-07-01)

New techniques for the analysis of fine-scaled clustering phenomena within atom probe tomography (APT) data.
Yazar:: Stephenson, LT, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

Theory of solute clustering in materials for atom probe
Yazar:: Stephenson, LT, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Statistical tools for the local electrode atom probe
Yazar:: Moody, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2006)

Spatial decomposition of molecular ions within 3D atom probe reconstructions.
Yazar:: Breen, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2013)

Bringing atom probe tomography to transmission electron microscopes
Yazar:: Gerald Da Costa, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2024-11-01)

Overcoming challenges in the study of nitrided microalloyed steels using atom probe.
Yazar:: Xie, K, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)

diluted magnetic semiconductors /
Yazar:: Furdyna, Jacek K., ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1988)

Advances in the calibration of atom probe tomographic reconstruction
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)

Restoring the lattice of Si-based atom probe reconstructions for enhanced information on dopant positioning.
Yazar:: Breen, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2015)

Modeling and simulation in atom probe tomography
Yazar:: Larson, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2019)

Mining information from atom probe data
Yazar:: Cairney, J, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2015)

Effect of Sn Addition in Preprecipitation Stage in Al-Cu Alloys: A Correlative Transmission Electron Microscopy and Atom Probe Tomography Study
Yazar:: Homma, T, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)

Origins of the hydrogen signal in atom probe tomography: case studies of alkali and noble metals
Yazar:: Su-Hyun Yoo, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2022-01-01)

Tomographic Reconstruction in Atom Probe Microscopy: Past, Present ... Future?
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)