On the understanding of the microscopic origin of the properties of diluted magnetic semiconductors by atom probe tomography

On the understanding of the microscopic origin of the properties of diluted magnetic semiconductors by atom probe tomography

Spintronics, in which both the spin and charge of electrons are used for logic and memory operations, promises to revolutionize the current information technology. Just as silicon supports microelectronics, diluted magnetic semiconductors (DMSs) will be the platform of spintronics. Ideal DMSs should...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:	Zheng, R, Moody, M, Gault, B, Liu, Z, Liu, H, Ringer, S
Định dạng:	Journal article
Ngôn ngữ:	English
Được phát hành:	2009

Những quyển sách tương tự

Atom Probe Tomography at The University of Sydney
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2008)

Impact of laser pulsing on the reconstruction in an atom probe tomography.
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2010)

Estimation of the reconstruction parameters for atom probe tomography
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2008)

Origin of the spatial resolution in atom probe microscopy
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2009)

Spatial resolution in atom probe tomography.
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2010)

Atom probe crystallography
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2012)

Dynamic reconstruction for atom probe tomography.
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2011)

Lattice rectification in atom probe tomography: toward true three-dimensional atomic microscopy.
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2011)

Introduction: Special issue on atom probe tomography
Bằng: Ringer, S, et al.
Được phát hành: (2007)

Accuracy of pulsed laser atom probe tomography for compound semiconductor analysis
Bằng: Mueller, M, et al.
Được phát hành: (2011)

Applications of spatial distribution maps for advanced atom probe reconstruction and data analysis
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2009)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
Bằng: Stephenson, LT, et al.
Được phát hành: (2011)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
Bằng: Stephenson, LT, et al.
Được phát hành: (2010)

Contingency table techniques for three dimensional atom probe tomography.
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2007)

Influence of surface migration on the spatial resolution of pulsed laser atom probe tomography
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2010)

Compositional nonuniformities in pulsed laser atom probe tomography analysis of compound semiconductors
Bằng: Mueller, M, et al.
Được phát hành: (2012)

Influence of the wavelength on the spatial resolution of pulsed-laser atom probe
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2011)

Atom probe crystallography: Atomic-scale 3-D orientation mapping
Bằng: Araullo-Peters, V, et al.
Được phát hành: (2012)

Qualification of the tomographic reconstruction in atom probe by advanced spatial distribution map techniques.
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2009)

Atom probe crystallography: characterization of grain boundary orientation relationships in nanocrystalline aluminium.
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2011)

Quantitative binomial distribution analyses of nanoscale like-solute atom clustering and segregation in atom probe tomography data.
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2008)

Advances in the reconstruction of atom probe tomography data.
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2011)

Atom Probe Microscopy /
Bằng: Gault, Baptiste author 632642, et al.
Được phát hành: (2012)

Reflections on the analysis of interfaces and grain boundaries by atom probe tomography
Bằng: Jenkins, BM, et al.
Được phát hành: (2020)

Challenges Associated with the Characterisation of Nanocrystalline Materials using Atom Probe Tomography
Bằng: Tang, F, et al.
Được phát hành: (2010)

Probing the magnetic profile of diluted magnetic semiconductors using polarized neutron reflectivity
Bằng: X. Luo, et al.
Được phát hành: (2017-07-01)

New techniques for the analysis of fine-scaled clustering phenomena within atom probe tomography (APT) data.
Bằng: Stephenson, LT, et al.
Được phát hành: (2007)

Theory of solute clustering in materials for atom probe
Bằng: Stephenson, LT, et al.
Được phát hành: (2011)

Statistical tools for the local electrode atom probe
Bằng: Moody, M, et al.
Được phát hành: (2006)

Spatial decomposition of molecular ions within 3D atom probe reconstructions.
Bằng: Breen, A, et al.
Được phát hành: (2013)

Bringing atom probe tomography to transmission electron microscopes
Bằng: Gerald Da Costa, et al.
Được phát hành: (2024-11-01)

Overcoming challenges in the study of nitrided microalloyed steels using atom probe.
Bằng: Xie, K, et al.
Được phát hành: (2012)

diluted magnetic semiconductors /
Bằng: Furdyna, Jacek K., et al.
Được phát hành: (1988)

Advances in the calibration of atom probe tomographic reconstruction
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2009)

Restoring the lattice of Si-based atom probe reconstructions for enhanced information on dopant positioning.
Bằng: Breen, A, et al.
Được phát hành: (2015)

Modeling and simulation in atom probe tomography
Bằng: Larson, D, et al.
Được phát hành: (2019)

Mining information from atom probe data
Bằng: Cairney, J, et al.
Được phát hành: (2015)

Effect of Sn Addition in Preprecipitation Stage in Al-Cu Alloys: A Correlative Transmission Electron Microscopy and Atom Probe Tomography Study
Bằng: Homma, T, et al.
Được phát hành: (2012)

Origins of the hydrogen signal in atom probe tomography: case studies of alkali and noble metals
Bằng: Su-Hyun Yoo, et al.
Được phát hành: (2022-01-01)

Tomographic Reconstruction in Atom Probe Microscopy: Past, Present ... Future?
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2009)