On the understanding of the microscopic origin of the properties of diluted magnetic semiconductors by atom probe tomography

On the understanding of the microscopic origin of the properties of diluted magnetic semiconductors by atom probe tomography

Spintronics, in which both the spin and charge of electrons are used for logic and memory operations, promises to revolutionize the current information technology. Just as silicon supports microelectronics, diluted magnetic semiconductors (DMSs) will be the platform of spintronics. Ideal DMSs should...

תיאור מלא

מידע ביבליוגרפי
Main Authors:	Zheng, R, Moody, M, Gault, B, Liu, Z, Liu, H, Ringer, S
פורמט:	Journal article
שפה:	English
יצא לאור:	2009

פריטים דומים

Atom Probe Tomography at The University of Sydney
מאת: Gault, B, et al.
יצא לאור: (2008)

Impact of laser pulsing on the reconstruction in an atom probe tomography.
מאת: Gault, B, et al.
יצא לאור: (2010)

Estimation of the reconstruction parameters for atom probe tomography
מאת: Gault, B, et al.
יצא לאור: (2008)

Origin of the spatial resolution in atom probe microscopy
מאת: Gault, B, et al.
יצא לאור: (2009)

Spatial resolution in atom probe tomography.
מאת: Gault, B, et al.
יצא לאור: (2010)

Atom probe crystallography
מאת: Gault, B, et al.
יצא לאור: (2012)

Dynamic reconstruction for atom probe tomography.
מאת: Gault, B, et al.
יצא לאור: (2011)

Lattice rectification in atom probe tomography: toward true three-dimensional atomic microscopy.
מאת: Moody, M, et al.
יצא לאור: (2011)

Introduction: Special issue on atom probe tomography
מאת: Ringer, S, et al.
יצא לאור: (2007)

Accuracy of pulsed laser atom probe tomography for compound semiconductor analysis
מאת: Mueller, M, et al.
יצא לאור: (2011)

Applications of spatial distribution maps for advanced atom probe reconstruction and data analysis
מאת: Moody, M, et al.
יצא לאור: (2009)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
מאת: Stephenson, LT, et al.
יצא לאור: (2011)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
מאת: Stephenson, LT, et al.
יצא לאור: (2010)

Contingency table techniques for three dimensional atom probe tomography.
מאת: Moody, M, et al.
יצא לאור: (2007)

Influence of surface migration on the spatial resolution of pulsed laser atom probe tomography
מאת: Gault, B, et al.
יצא לאור: (2010)

Compositional nonuniformities in pulsed laser atom probe tomography analysis of compound semiconductors
מאת: Mueller, M, et al.
יצא לאור: (2012)

Influence of the wavelength on the spatial resolution of pulsed-laser atom probe
מאת: Gault, B, et al.
יצא לאור: (2011)

Atom probe crystallography: Atomic-scale 3-D orientation mapping
מאת: Araullo-Peters, V, et al.
יצא לאור: (2012)

Qualification of the tomographic reconstruction in atom probe by advanced spatial distribution map techniques.
מאת: Moody, M, et al.
יצא לאור: (2009)

Atom probe crystallography: characterization of grain boundary orientation relationships in nanocrystalline aluminium.
מאת: Moody, M, et al.
יצא לאור: (2011)

Quantitative binomial distribution analyses of nanoscale like-solute atom clustering and segregation in atom probe tomography data.
מאת: Moody, M, et al.
יצא לאור: (2008)

Advances in the reconstruction of atom probe tomography data.
מאת: Gault, B, et al.
יצא לאור: (2011)

Atom Probe Microscopy /
מאת: Gault, Baptiste author 632642, et al.
יצא לאור: (2012)

Reflections on the analysis of interfaces and grain boundaries by atom probe tomography
מאת: Jenkins, BM, et al.
יצא לאור: (2020)

Challenges Associated with the Characterisation of Nanocrystalline Materials using Atom Probe Tomography
מאת: Tang, F, et al.
יצא לאור: (2010)

Probing the magnetic profile of diluted magnetic semiconductors using polarized neutron reflectivity
מאת: X. Luo, et al.
יצא לאור: (2017-07-01)

New techniques for the analysis of fine-scaled clustering phenomena within atom probe tomography (APT) data.
מאת: Stephenson, LT, et al.
יצא לאור: (2007)

Theory of solute clustering in materials for atom probe
מאת: Stephenson, LT, et al.
יצא לאור: (2011)

Statistical tools for the local electrode atom probe
מאת: Moody, M, et al.
יצא לאור: (2006)

Spatial decomposition of molecular ions within 3D atom probe reconstructions.
מאת: Breen, A, et al.
יצא לאור: (2013)

Bringing atom probe tomography to transmission electron microscopes
מאת: Gerald Da Costa, et al.
יצא לאור: (2024-11-01)

Overcoming challenges in the study of nitrided microalloyed steels using atom probe.
מאת: Xie, K, et al.
יצא לאור: (2012)

diluted magnetic semiconductors /
מאת: Furdyna, Jacek K., et al.
יצא לאור: (1988)

Advances in the calibration of atom probe tomographic reconstruction
מאת: Gault, B, et al.
יצא לאור: (2009)

Restoring the lattice of Si-based atom probe reconstructions for enhanced information on dopant positioning.
מאת: Breen, A, et al.
יצא לאור: (2015)

Modeling and simulation in atom probe tomography
מאת: Larson, D, et al.
יצא לאור: (2019)

Mining information from atom probe data
מאת: Cairney, J, et al.
יצא לאור: (2015)

Effect of Sn Addition in Preprecipitation Stage in Al-Cu Alloys: A Correlative Transmission Electron Microscopy and Atom Probe Tomography Study
מאת: Homma, T, et al.
יצא לאור: (2012)

Origins of the hydrogen signal in atom probe tomography: case studies of alkali and noble metals
מאת: Su-Hyun Yoo, et al.
יצא לאור: (2022-01-01)

Tomographic Reconstruction in Atom Probe Microscopy: Past, Present ... Future?
מאת: Gault, B, et al.
יצא לאור: (2009)