Investigation of threading dislocation blocking in strained-layer InGaAs/GaAs heterostructures using scanning cathodoluminescence microscopy

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Russell, J, Zou, J, Moon, A, Cockayne, D
Ձևաչափ: Journal article
Հրապարակվել է: 2000