Investigation of threading dislocation blocking in strained-layer InGaAs/GaAs heterostructures using scanning cathodoluminescence microscopy
Main Authors: | Russell, J, Zou, J, Moon, A, Cockayne, D |
---|---|
פורמט: | Journal article |
יצא לאור: |
2000
|
פריטים דומים
-
Cathodoluminescence study of oval defects in MBE grown InGaAs/GaAs
מאת: RussellHarriott, J, et al.
יצא לאור: (1996) -
Investigation of oval defects in InGaAs/GaAs strained-layer heterostructures using cathodoluminescence and wavelength dispersive spectroscopy
מאת: Russell-Harriott, J, et al.
יצא לאור: (1998) -
Oval defects in InGaAs/GaAs heterostructures
מאת: Russell-Harriott, J, et al.
יצא לאור: (1998) -
Estimation of the MQW InGaAs/GaAs heterostructures stability to the formation of misfit dislocations
מאת: A. A. Maldzhy, et al.
יצא לאור: (2006-12-01) -
Misfit dislocations generated from inhomogeneous sources and their critical thicknesses in a InGaAs/GaAs heterostructure grown by molecular beam epitaxy
מאת: Zou, J, et al.
יצא לאור: (1997)