Developments in C-s-corrected STEM

Developments in C-s-corrected STEM

The new corrector of spherical aberration (C-s) we have built for a Scanning Transmission Electron Microscope (STEM) is described. We have recently installed such a corrector in a dedicated 100 kV STEM at Oak Ridge National Laboratory and the first results are presented. We conclude by discussing up...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:	Lupini, A, Krivanek, O, Dellby, N, Nellist, P, Pennycook, S
Định dạng:	Conference item
Được phát hành:	2001

Những quyển sách tương tự

Towards sub-0.5 angstrom beams through aberration corrected STEM
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2004)

Aberration-corrected STEM: current performance and future directions
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2006)

Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy.
Bằng: Dellby, N, et al.
Được phát hành: (2001)

Nanoscale structure/property correlation through aberration-corrected stem and theory
Bằng: Pennycook, S, et al.
Được phát hành: (2003)

An Aberration-Corrected STEM for Diffraction Studies.
Bằng: Krivanek, O, et al.
Được phát hành: (2005)

Design and Testing of a Quadrupole/Octupole C3/C5 Aberration Corrector.
Bằng: Dellby, N, et al.
Được phát hành: (2005)

Direct sub-angstrom imaging of a crystal lattice.
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2004)

Materials analysis by aberration-corrected STEM
Bằng: Krivanek, O, et al.
Được phát hành: (2005)

Spectroscopic imaging of single atoms within a bulk solid.
Bằng: Varela, M, et al.
Được phát hành: (2004)

Towards sub-0.5 A electron beams.
Bằng: Krivanek, O, et al.
Được phát hành: (2003)

Efficient phase contrast imaging in STEM using a pixelated detector. Part 1: Experimental demonstration at atomic resolution.
Bằng: Pennycook, T, et al.
Được phát hành: (2014)

Aberration measurement using the Ronchigram contrast transfer function.
Bằng: Lupini, A, et al.
Được phát hành: (2010)

Aberration measurement using the Ronchigram constrast transfer function
Bằng: Lupini, A, et al.
Được phát hành: (2010)

Quantitative sub-angstrom imaging through ADF STEM
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (1998)

Accurate structure determination from image reconstruction in ADF STEM
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (1998)

Subangstrom resolution imaging using annular dark-field STEM
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (1999)

On the origin of transverse incoherence in Z-contrast STEM.
Bằng: Rafferty, B, et al.
Được phát hành: (2001)

Direct structure determination by atomic-resolution incoherent STEM imaging
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (1997)

EELS in the STEM: Determination of materials properties on the atomic scale
Bằng: Browning, N, et al.
Được phát hành: (1997)

Z-contrast Imaging in an Aberration-corrected Scanning Transmission Electron Microscope.
Bằng: Pennycook, S, et al.
Được phát hành: (2000)

Making the link between ADF and 4D STEM: Resolution, transfer and coherence
Bằng: Nellist, PD, et al.
Được phát hành: (2024)

HAADF-STEM imaging with sub-angstrom probes: a full Bloch wave analysis.
Bằng: Peng, Y, et al.
Được phát hành: (2004)

Efficient phase contrast imaging in STEM using a pixelated detector. Part II: Optimisation of imaging conditions.
Bằng: Yang, H, et al.
Được phát hành: (2014)

High angle dark field STEM for advanced materials
Bằng: Pennycook, S, et al.
Được phát hành: (1996)

Determination of atomic structure at surfaces and interfaces by high-resolution stem
Bằng: Pennycook, S, et al.
Được phát hành: (1997)

Subangstrom resolution by underfocused incoherent transmission electron microscopy
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (1998)

The principles and interpretation of annular dark-field Z-contrast imaging
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2000)

Z-contrast scanning transmission electron microscopy
Bằng: Pennycook, S, et al.
Được phát hành: (1999)

Atomic resolution Z-contrast imaging of ultradispersed catalysts
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (1997)

Incoherent imaging using dynamically scattered coherent electrons
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (1999)

Direct imaging of the atomic configuration of ultradispersed catalysts
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (1996)

Transmission electron microscopy: Overview and challenges
Bằng: Pennycook, S, et al.
Được phát hành: (2003)

A Bloch wave analysis of optical sectioning in aberration-corrected STEM.
Bằng: Cosgriff, E, et al.
Được phát hành: (2007)

STEM Image Post-processing for Instability and Aberration Correction for Transfer Function Extension
Bằng: Jones, L, et al.
Được phát hành: (2012)

Direct observations of atomic structures of defects in GaN by high resolution Z-contrast stem
Bằng: Xin, Y, et al.
Được phát hành: (1998)

Quantitative techniques for aberration corrected HAADF STEM of nano-materials
Bằng: E, H, et al.
Được phát hành: (2012)

Prospects for 3D characterization of materials by aberration-corrected STEM and SCEM
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2007)

Probe integrated scattering cross sections in the analysis of atomic resolution HAADF STEM images.
Bằng: E, H, et al.
Được phát hành: (2013)

Nanoscale momentum-resolved vibrational spectroscopy
Bằng: Hage, F, et al.
Được phát hành: (2018)

Near-Ideal Direct-Electron Focused-Probe 4D-STEM Data for Open-Source Phase Reconstructions
Bằng: Susi Toma, et al.
Được phát hành: (2024-01-01)