Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Nanoscale structure/property c...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
Nanoscale structure/property correlation through aberration-corrected stem and theory
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
Pennycook, S
,
Lupini, A
,
Varela, M
,
Borisevich, A
,
Chisholm, M
,
Abe, E
,
Dellby, N
,
Krivanek, O
,
Nellist, P
,
Wang, L
,
Buczko, R
,
Fan, X
,
Pantelides, S
Μορφή:
Conference item
Έκδοση:
2003
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Aberration-corrected STEM: current performance and future directions
ανά: Nellist, P, κ.ά.
Έκδοση: (2006)
Towards sub-0.5 angstrom beams through aberration corrected STEM
ανά: Nellist, P, κ.ά.
Έκδοση: (2004)
Developments in C-s-corrected STEM
ανά: Lupini, A, κ.ά.
Έκδοση: (2001)
Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy.
ανά: Dellby, N, κ.ά.
Έκδοση: (2001)
An Aberration-Corrected STEM for Diffraction Studies.
ανά: Krivanek, O, κ.ά.
Έκδοση: (2005)