Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
שפה
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
Nanoscale structure/property c...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
Permanent link
Nanoscale structure/property correlation through aberration-corrected stem and theory
מידע ביבליוגרפי
Main Authors:
Pennycook, S
,
Lupini, A
,
Varela, M
,
Borisevich, A
,
Chisholm, M
,
Abe, E
,
Dellby, N
,
Krivanek, O
,
Nellist, P
,
Wang, L
,
Buczko, R
,
Fan, X
,
Pantelides, S
פורמט:
Conference item
יצא לאור:
2003
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
פריטים דומים
Aberration-corrected STEM: current performance and future directions
מאת: Nellist, P, et al.
יצא לאור: (2006)
Towards sub-0.5 angstrom beams through aberration corrected STEM
מאת: Nellist, P, et al.
יצא לאור: (2004)
Developments in C-s-corrected STEM
מאת: Lupini, A, et al.
יצא לאור: (2001)
Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy.
מאת: Dellby, N, et al.
יצא לאור: (2001)
An Aberration-Corrected STEM for Diffraction Studies.
מאת: Krivanek, O, et al.
יצא לאור: (2005)