Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Vsa polja
Naslov
Avtor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Išči
Napredno
Nanoscale structure/property c...
Citiraj
Pošljite SMS
Pošljite email
Natisni
Izvozi zadetek
Izvozi v RefWorks
Izvozi v EndNoteWeb
Izvozi v EndNote
Permanent link
Nanoscale structure/property correlation through aberration-corrected stem and theory
Bibliografske podrobnosti
Main Authors:
Pennycook, S
,
Lupini, A
,
Varela, M
,
Borisevich, A
,
Chisholm, M
,
Abe, E
,
Dellby, N
,
Krivanek, O
,
Nellist, P
,
Wang, L
,
Buczko, R
,
Fan, X
,
Pantelides, S
Format:
Conference item
Izdano:
2003
Zaloga
Opis
Podobne knjige/članki
Knjižničarski pogled
Podobne knjige/članki
Aberration-corrected STEM: current performance and future directions
od: Nellist, P, et al.
Izdano: (2006)
Towards sub-0.5 angstrom beams through aberration corrected STEM
od: Nellist, P, et al.
Izdano: (2004)
Developments in C-s-corrected STEM
od: Lupini, A, et al.
Izdano: (2001)
Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy.
od: Dellby, N, et al.
Izdano: (2001)
An Aberration-Corrected STEM for Diffraction Studies.
od: Krivanek, O, et al.
Izdano: (2005)