تخطي إلى المحتوى
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
اللغة
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
Dielectric and infrared proper...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
رابط دائم
Dielectric and infrared properties of ultrathin SiO2 layers on Si(100)
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:
Giustino, F
,
Pasquarello, A
التنسيق:
Conference item
منشور في:
2006
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
مواد مشابهة
Infrared properties of ultrathin oxides on Si(100)
حسب: Giustino, F, وآخرون
منشور في: (2005)
Atomistic models of the Si(100)-SiO(2) interface: structural, electronic and dielectric properties
حسب: Giustino, F, وآخرون
منشور في: (2005)
Infrared spectra at surfaces and interfaces from first principles: evolution of the spectra across the Si(100)-SiO2 interface.
حسب: Giustino, F, وآخرون
منشور في: (2005)
Atomic-scale modelling of the Si(100)-SiO(2) interface
حسب: Giustino, F, وآخرون
منشور في: (2005)
Electronic structure at realistic Si(100)-SiO2 interfaces
حسب: Giustino, F, وآخرون
منشور في: (2004)