Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
Analysis of complex heterogene...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
Analysis of complex heterogeneous surfaces by bias-dependent scanning tunneling microscopy and spectroscopy
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
Goldfarb, I
,
Briggs, G
Format:
Conference item
Publicat:
2002
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
Scanning tunneling microscopy of the UO2(111) surface
per: Castell, M, et al.
Publicat: (1996)
Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy of Supported Nanostructures
per: Wolf-Dieter Schneider
Publicat: (2012-02-01)
Scanning tunneling microscopy of electrode surfaces
per: Blackham, I
Publicat: (1992)
INSITU SCANNING TUNNELING MICROSCOPY - NEW INSIGHT FOR ELECTROCHEMICAL ELECTRODE SURFACE INVESTIGATIONS
per: Cataldi, T, et al.
Publicat: (1990)
Scanning tunneling microscopy and spectroscopy of rubrene on clean and graphene-covered metal surfaces
per: Karl Rothe, et al.
Publicat: (2020-08-01)