Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
Analysis of complex heterogene...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
Analysis of complex heterogeneous surfaces by bias-dependent scanning tunneling microscopy and spectroscopy
Бібліографічні деталі
Автори:
Goldfarb, I
,
Briggs, G
Формат:
Conference item
Опубліковано:
2002
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Схожі ресурси
Scanning tunneling microscopy of the UO2(111) surface
за авторством: Castell, M, та інші
Опубліковано: (1996)
Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy of Supported Nanostructures
за авторством: Wolf-Dieter Schneider
Опубліковано: (2012-02-01)
Scanning tunneling microscopy of electrode surfaces
за авторством: Blackham, I
Опубліковано: (1992)
INSITU SCANNING TUNNELING MICROSCOPY - NEW INSIGHT FOR ELECTROCHEMICAL ELECTRODE SURFACE INVESTIGATIONS
за авторством: Cataldi, T, та інші
Опубліковано: (1990)
Scanning tunneling microscopy and spectroscopy of rubrene on clean and graphene-covered metal surfaces
за авторством: Karl Rothe, та інші
Опубліковано: (2020-08-01)