Пропуск в контексте
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Язык
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
FIELD-ION MICROSCOPE ATOM PROB...
Цитировать
Отправить по sms
Отправить на Email
Печать
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Постоянная ссылка
FIELD-ION MICROSCOPE ATOM PROBE STUDIES OF METALLIC GLASSES
Библиографические подробности
Главные авторы:
Bhatti, A
,
Cantor, B
,
Joag, D
,
Smith, G
Формат:
Journal article
Опубликовано:
1985
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Описание
Итог:
Схожие документы
ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE ON SILICON
по: King, R, и др.
Опубликовано: (1995)
FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE ANALYSIS OF GRIDDED SILICON FIELD EMITTERS
по: Huang, M, и др.
Опубликовано: (1994)
FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM-SILICIDE-COATED SILICON EMITTERS
по: King, R, и др.
Опубликовано: (1995)
FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE COATED SILICON EMITTERS
по: King, R, и др.
Опубликовано: (1994)
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
по: Godfrey, T, и др.
Опубликовано: (1989)