Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
שפה
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
ELECTRON IMAGING AND ENERGY-LO...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
Permanent link
ELECTRON IMAGING AND ENERGY-LOSS STUDIES OF THE CRYSTALLIZATION OF HYDROGENATED AMORPHOUS-SILICON
מידע ביבליוגרפי
Main Authors:
Mckenzie, D
,
Turner, P
,
Cockayne, D
פורמט:
Journal article
יצא לאור:
1986
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
פריטים דומים
STRUCTURAL STUDY OF HYDROGENATED AMORPHOUS-SILICON CARBON ALLOYS
מאת: Sproul, A, et al.
יצא לאור: (1986)
ELECTRON-DIFFRACTION STUDY OF THE STRUCTURE OF BORON-DOPED AND PHOSPHORUS-DOPED HYDROGENATED AMORPHOUS-SILICON
מאת: Liu, Z, et al.
יצא לאור: (1988)
Electron diffraction studies of the structure of amorphous and polycrystalline materials
מאת: Cockayne, D, et al.
יצא לאור: (1998)
ELECTRON-DIFFRACTION ANALYSIS OF POLYCRYSTALLINE AND AMORPHOUS THIN-FILMS
מאת: Cockayne, D, et al.
יצא לאור: (1988)
ELECTRON-DIFFRACTION ANALYSIS OF POLYCRYSTALLINE AND AMORPHOUS THIN-FILMS
מאת: Cockayne, D, et al.
יצא לאור: (1988)