Wang, P., Behan, G., Kirkland, A., Nellist, P., Cosgriff, E., D'Alfonso, A., . . . Shimojo, M. (2011). Bright-field scanning confocal electron microscopy using a double aberration-corrected transmission electron microscope.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Wang, P., et al. Bright-field Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double Aberration-corrected Transmission Electron Microscope. 2011.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Wang, P., et al. Bright-field Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double Aberration-corrected Transmission Electron Microscope. 2011.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..