Wang, P., Behan, G., Kirkland, A., Nellist, P., Cosgriff, E., D'Alfonso, A., . . . Shimojo, M. (2011). Bright-field scanning confocal electron microscopy using a double aberration-corrected transmission electron microscope.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Wang, P., et al. Bright-field Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double Aberration-corrected Transmission Electron Microscope. 2011.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Wang, P., et al. Bright-field Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double Aberration-corrected Transmission Electron Microscope. 2011.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.