Wang, P., Behan, G., Kirkland, A., Nellist, P., Cosgriff, E., D'Alfonso, A., . . . Shimojo, M. (2011). Bright-field scanning confocal electron microscopy using a double aberration-corrected transmission electron microscope.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Wang, P., et al. Bright-field Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double Aberration-corrected Transmission Electron Microscope. 2011.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Wang, P., et al. Bright-field Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double Aberration-corrected Transmission Electron Microscope. 2011.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.