Przejdź do treści
VuFind
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
Wyszukiwanie zaawansowane
  • MEASUREMENT OF CONTRAST FROM I...
  • Cytować
  • Wyślij wiadomość
  • Wyślij emailem
  • Drukuj
  • Eksportuj rekord
    • Eksportuj do RefWorks
    • Eksportuj do EndNoteWeb
    • Eksportuj do EndNote
  • Odnośnik bezpośredni
MEASUREMENT OF CONTRAST FROM INDIVIDUAL DISLOCATIONS BY LOCK-IN EBIC

MEASUREMENT OF CONTRAST FROM INDIVIDUAL DISLOCATIONS BY LOCK-IN EBIC

Opis bibliograficzny
Główni autorzy: Ourmazd, A, Wilshaw, P, Cripps, R
Format: Journal article
Wydane: 1982
  • Egzemplarz
  • Opis
  • Podobne zapisy
  • Wersja MARC
Opis
Streszczenie:

Podobne zapisy

  • TEMPERATURE DEPENDENCE OF EBIC CONTRAST FROM INDIVIDUAL DISLOCATIONS IN SILICON.
    od: Ourmazd, A, i wsp.
    Wydane: (1983)
  • THE TEMPERATURE-DEPENDENCE OF EBIC CONTRAST FROM INDIVIDUAL DISLOCATIONS IN SILICON
    od: Ourmazd, A, i wsp.
    Wydane: (1983)
  • SOME ASPECTS OF THE MEASUREMENTS OF ELECTRICAL EFFECTS OF DISLOCATIONS IN SILICON USING A COMPUTERIZED EBIC SYSTEM
    od: Wilshaw, P, i wsp.
    Wydane: (1983)
  • SOME ASPECTS OF THE MEASUREMENTS OF ELECTRICAL EFFECTS OF DISLOCATION IN SILICON USING A COMPUTERISED EBIC SYSTEM.
    od: Wilshaw, P, i wsp.
    Wydane: (1983)
  • NEW RESULTS AND AN INTERPRETATION FOR SEM EBIC CONTRAST ARISING FROM INDIVIDUAL DISLOCATIONS IN SILICON.
    od: Wilshaw, P, i wsp.
    Wydane: (1985)

Opcje wyszukiwania

  • Historia wyszukiwania
  • Wyszukiwanie zaawansowane

Dalsze opcje

  • Przeglądaj katalog
  • Przeglądaj alfabetycznie
  • Przeglądaj kanały
  • Aparaty semestralne
  • Nowe nabytki

Pomoc

  • Wskazówka do wyszukiwania
  • Zapytaj bibliotekarza
  • Często zadawane pytania