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MEASUREMENT OF CONTRAST FROM INDIVIDUAL DISLOCATIONS BY LOCK-IN EBIC

MEASUREMENT OF CONTRAST FROM INDIVIDUAL DISLOCATIONS BY LOCK-IN EBIC

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Ourmazd, A, Wilshaw, P, Cripps, R
Formato: Journal article
Publicado: 1982
  • Existencias
  • Descripción
  • Ejemplares similares
  • Vista Equipo

Ejemplares similares

  • TEMPERATURE DEPENDENCE OF EBIC CONTRAST FROM INDIVIDUAL DISLOCATIONS IN SILICON.
    por: Ourmazd, A, et al.
    Publicado: (1983)
  • THE TEMPERATURE-DEPENDENCE OF EBIC CONTRAST FROM INDIVIDUAL DISLOCATIONS IN SILICON
    por: Ourmazd, A, et al.
    Publicado: (1983)
  • SOME ASPECTS OF THE MEASUREMENTS OF ELECTRICAL EFFECTS OF DISLOCATIONS IN SILICON USING A COMPUTERIZED EBIC SYSTEM
    por: Wilshaw, P, et al.
    Publicado: (1983)
  • SOME ASPECTS OF THE MEASUREMENTS OF ELECTRICAL EFFECTS OF DISLOCATION IN SILICON USING A COMPUTERISED EBIC SYSTEM.
    por: Wilshaw, P, et al.
    Publicado: (1983)
  • NEW RESULTS AND AN INTERPRETATION FOR SEM EBIC CONTRAST ARISING FROM INDIVIDUAL DISLOCATIONS IN SILICON.
    por: Wilshaw, P, et al.
    Publicado: (1985)

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