Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
PERFORMANCE AND APPLICATIONS O...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
PERFORMANCE AND APPLICATIONS OF AN IMAGING ATOM-PROBE
Бібліографічні деталі
Автори:
Miller, M
,
Godfrey, T
,
Beaven, P
,
Williams, P
,
Delargy, K
,
Smith, G
Формат:
Journal article
Опубліковано:
1979
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Схожі ресурси
TRACE-ELEMENT DETECTION AT THE ATOMIC LEVEL BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
за авторством: Beaven, P, та інші
Опубліковано: (1980)
FIM AND ATOM-PROBE STUDIES OF DEFECTS IN DOPED TUNGSTEN LAMP WIRES
за авторством: Beaven, P, та інші
Опубліковано: (1979)
PROGRESS WITH FIM AND ATOM-PROBE INVESTIGATIONS OF NICKEL-BASED SUPER-ALLOYS
за авторством: Delargy, K, та інші
Опубліковано: (1979)
FURTHER INVESTIGATIONS OF CARBON-ATOM DISTRIBUTION IN MARTENSITE BY ATOM PROBE ANALYSIS
за авторством: Miller, M, та інші
Опубліковано: (1980)
QUANTITATIVE-DETERMINATION OF ALLOY ELEMENT PARTITIONING IN PEARLITIC STEELS BY ATOM PROBE ANALYSIS
за авторством: Miller, M, та інші
Опубліковано: (1979)