Direct electron detection for TEM with column parallel CCD
Step improvements in electron detectors are needed for transmission electron microscopes (TEM) to take full advantage of latest developments in electron optics and electron sources. This work presents beam tests performed with column parallel charge-coupled devices (CPCCD) and discusses measured clu...
Автори: | Moldovan, G, Jeffery, B, Nomerotski, A, Kirkland, A |
---|---|
Формат: | Conference item |
Опубліковано: |
2009
|
Схожі ресурси
-
Imaging modes for direct electron detection in TEM with column parallel CCD
за авторством: Moldovan, G, та інші
Опубліковано: (2009) -
Can direct electron detectors outperform phosphor-CCD systems for TEM?
за авторством: Moldovan, G, та інші
Опубліковано: (2008) -
Planar transformers for column parallel CCD clock drive
за авторством: Hawes, B, та інші
Опубліковано: (2009) -
Readout chip for Column Parallel CCD, CPR2A
за авторством: Havranek, M, та інші
Опубліковано: (2009) -
Design and performance of improved Column Parallel CCD, CPC2
за авторством: Banda, Y, та інші
Опубліковано: (2010)