Direct electron detection for TEM with column parallel CCD
Step improvements in electron detectors are needed for transmission electron microscopes (TEM) to take full advantage of latest developments in electron optics and electron sources. This work presents beam tests performed with column parallel charge-coupled devices (CPCCD) and discusses measured clu...
Những tác giả chính: | Moldovan, G, Jeffery, B, Nomerotski, A, Kirkland, A |
---|---|
Định dạng: | Conference item |
Được phát hành: |
2009
|
Những quyển sách tương tự
-
Imaging modes for direct electron detection in TEM with column parallel CCD
Bằng: Moldovan, G, et al.
Được phát hành: (2009) -
Can direct electron detectors outperform phosphor-CCD systems for TEM?
Bằng: Moldovan, G, et al.
Được phát hành: (2008) -
Planar transformers for column parallel CCD clock drive
Bằng: Hawes, B, et al.
Được phát hành: (2009) -
Readout chip for Column Parallel CCD, CPR2A
Bằng: Havranek, M, et al.
Được phát hành: (2009) -
Design and performance of improved Column Parallel CCD, CPC2
Bằng: Banda, Y, et al.
Được phát hành: (2010)