ATOMIC RESOLUTION OF SURFACES IN THE ATOM PROBE

ATOMIC RESOLUTION OF SURFACES IN THE ATOM PROBE

Бібліографічні деталі
Автор:	Smith, G
Формат:	Journal article
Опубліковано:	1981

Схожі ресурси

Improvements in the mass resolution of the three-dimensional atom probe
за авторством: Sijbrandij, S, та інші
Опубліковано: (1996)

Spatial resolution in atom probe tomography.
за авторством: Gault, B, та інші
Опубліковано: (2010)

Influence of surface migration on the spatial resolution of pulsed laser atom probe tomography
за авторством: Gault, B, та інші
Опубліковано: (2010)

Design of a scanning atom probe with improved mass resolution
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2000)

Applications of a high-resolution three dimensional atom probe
за авторством: Smith, G, та інші
Опубліковано: (1997)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1992)

Origin of the spatial resolution in atom probe microscopy
за авторством: Gault, B, та інші
Опубліковано: (2009)

SURFACE-ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1989)

THE CHARACTERIZATION OF SILICON SURFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE ANALYSIS
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1982)

Studies of boundaries and interfaces on the atomic scale by atom probe FIM
за авторством: Smith, G, та інші
Опубліковано: (1998)

THE EFFECT OF LASER-PULSE SHAPE ON MASS RESOLUTION IN THE PULSED-LASER ATOM PROBE
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1987)

TRACE-ELEMENT DETECTION AT THE ATOMIC LEVEL BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
за авторством: Beaven, P, та інші
Опубліковано: (1980)

Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2001)

FURTHER INVESTIGATIONS OF CARBON-ATOM DISTRIBUTION IN MARTENSITE BY ATOM PROBE ANALYSIS
за авторством: Miller, M, та інші
Опубліковано: (1980)

ATOM-PROBE ANALYSIS OF INTERFACIAL SEGREGATION
за авторством: Miller, M, та інші
Опубліковано: (1995)

CARBON-ATOM DISTRIBUTION IN A DUAL PHASE STEEL - AN ATOM PROBE STUDY
за авторством: Barnard, S, та інші
Опубліковано: (1981)

Numerical modelling of mass resolution in a scanning atom probe.
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2001)

Influence of the wavelength on the spatial resolution of pulsed-laser atom probe
за авторством: Gault, B, та інші
Опубліковано: (2011)

STATISTICAL-ANALYSIS OF ATOM PROBE DATA
за авторством: Hetherington, M, та інші
Опубліковано: (1986)

Optimisation of a scanning atom probe with improved mass resolution using post deceleration.
за авторством: Grennan-Heaven, N, та інші
Опубліковано: (2007)

Automobile exhaust catalysis at the atomic scale: atom-probe investigations on platinum alloys
за авторством: Bagot, P, та інші
Опубліковано: (2007)

THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE - RECONSTRUCTION OF THE ATOMIC CHEMISTRY OF SOLIDS IN 3-DIMENSIONS (SUMMARY)
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1991)

NEW DIMENSIONS IN ATOM-PROBE ANALYSIS
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1992)

PERFORMANCE AND APPLICATIONS OF AN IMAGING ATOM-PROBE
за авторством: Miller, M, та інші
Опубліковано: (1979)

Atom probe crystallography
за авторством: Gault, B, та інші
Опубліковано: (2012)

Atom Probe Microscopy /
за авторством: Gault, Baptiste author 632642, та інші
Опубліковано: (2012)

OXIDATION OF CLEAN RUTHENIUM SURFACES .2. ATOM PROBE ANALYSES OF OXIDE-FILMS
за авторством: Cranstoun, G, та інші
Опубліковано: (1979)

Probing strongly interacting atomic gases with energetic atoms
за авторством: Nishida, Yusuke
Опубліковано: (2012)

APPLICATIONS OF ATOM-PROBE MICROANALYSIS IN MATERIALS SCIENCE
за авторством: Miller, M, та інші
Опубліковано: (1994)

Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1994)

AN ELECTRONIC AND COMPUTER-SYSTEM FOR AN AUTOMATED ATOM PROBE
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1984)

STRUCTURAL-ANALYSIS WITH THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
за авторством: Hetherington, M, та інші
Опубліковано: (1992)

IMPROVEMENTS IN 3-DIMENSIONAL ATOM-PROBE DESIGN
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1994)

Atom probe tomography today
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2007)

Atom probe tomography today
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2007)

Probing three-dimensional surface force fields with atomic resolution: Measurement strategies, limitations, and artifact reduction
за авторством: Mehmet Z. Baykara, та інші
Опубліковано: (2012-09-01)

Probing multiple-frequency atom-photon interactions with ultracold atoms
за авторством: Luksch, K, та інші
Опубліковано: (2019)

Probing multiple-frequency atom-photon interactions with ultracold atoms
за авторством: K Luksch, та інші
Опубліковано: (2019-01-01)

ANALYSIS OF DATA FROM AN OPTICAL ATOM-PROBE
за авторством: Cooper, A, та інші
Опубліковано: (1994)

A FIM ATOM PROBE STUDY OF VANADIUM OXIDATION
за авторством: Setna, R, та інші
Опубліковано: (1989)