Пропуск в контексте
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Язык
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
Direct and indirect electron m...
Цитировать
Отправить по sms
Отправить на Email
Печать
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Постоянная ссылка
Direct and indirect electron microscopy of encapsulated nanocrystals
Библиографические подробности
Главные авторы:
Kirkland, A
,
Sloan, J
Формат:
Journal article
Опубликовано:
2002
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Описание
Итог:
Схожие документы
Structural characterization of atomically regulated nanocrystals formed within single-walled carbon nanotubes using electron microscopy.
по: Sloan, J, и др.
Опубликовано: (2002)
Indirect Super Resolved Microscopy in the TEM.
по: Kirkland, A
Опубликовано: (1999)
"Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: Aberration measurement and wavefunction reconstruction
по: Kirkland, A, и др.
Опубликовано: (2004)
"Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: aberration measurement and wavefunction reconstruction.
по: Kirkland, A, и др.
Опубликовано: (2004)
Indirect transmission electron microscopy; Aberration measurement and compensation and exit wave reconstruction
по: Kirkland, A, и др.
Опубликовано: (2004)