Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
Direct and indirect electron m...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
Direct and indirect electron microscopy of encapsulated nanocrystals
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
Kirkland, A
,
Sloan, J
Format:
Journal article
Publicat:
2002
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Descripció
Sumari:
Ítems similars
Structural characterization of atomically regulated nanocrystals formed within single-walled carbon nanotubes using electron microscopy.
per: Sloan, J, et al.
Publicat: (2002)
Indirect Super Resolved Microscopy in the TEM.
per: Kirkland, A
Publicat: (1999)
"Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: Aberration measurement and wavefunction reconstruction
per: Kirkland, A, et al.
Publicat: (2004)
"Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: aberration measurement and wavefunction reconstruction.
per: Kirkland, A, et al.
Publicat: (2004)
Indirect transmission electron microscopy; Aberration measurement and compensation and exit wave reconstruction
per: Kirkland, A, et al.
Publicat: (2004)