Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Direct and indirect electron m...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
Direct and indirect electron microscopy of encapsulated nanocrystals
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
Kirkland, A
,
Sloan, J
Μορφή:
Journal article
Έκδοση:
2002
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Περιγραφή
Περίληψη:
Παρόμοια τεκμήρια
Structural characterization of atomically regulated nanocrystals formed within single-walled carbon nanotubes using electron microscopy.
ανά: Sloan, J, κ.ά.
Έκδοση: (2002)
Indirect Super Resolved Microscopy in the TEM.
ανά: Kirkland, A
Έκδοση: (1999)
"Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: Aberration measurement and wavefunction reconstruction
ανά: Kirkland, A, κ.ά.
Έκδοση: (2004)
"Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: aberration measurement and wavefunction reconstruction.
ανά: Kirkland, A, κ.ά.
Έκδοση: (2004)
Indirect transmission electron microscopy; Aberration measurement and compensation and exit wave reconstruction
ανά: Kirkland, A, κ.ά.
Έκδοση: (2004)