Saltar ao contenido
VuFind
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
Avanzado
  • Direct and indirect electron m...
  • Citar
  • Text this
  • Enviar este rexistro por email
  • Imprimir
  • Exportar rexistro
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Permanent link
Direct and indirect electron microscopy of encapsulated nanocrystals

Direct and indirect electron microscopy of encapsulated nanocrystals

Detalles Bibliográficos
Main Authors: Kirkland, A, Sloan, J
Formato: Journal article
Publicado: 2002
  • Existencias
  • Descripción
  • Títulos similares
  • Staff View
Descripción
Summary:

Títulos similares

  • Structural characterization of atomically regulated nanocrystals formed within single-walled carbon nanotubes using electron microscopy.
    por: Sloan, J, et al.
    Publicado: (2002)
  • Indirect Super Resolved Microscopy in the TEM.
    por: Kirkland, A
    Publicado: (1999)
  • "Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: Aberration measurement and wavefunction reconstruction
    por: Kirkland, A, et al.
    Publicado: (2004)
  • "Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: aberration measurement and wavefunction reconstruction.
    por: Kirkland, A, et al.
    Publicado: (2004)
  • Indirect transmission electron microscopy; Aberration measurement and compensation and exit wave reconstruction
    por: Kirkland, A, et al.
    Publicado: (2004)

Opciones de procura

  • Historial de Procuras
  • Procura avanzada

Buscar Máis

  • Revisar o catálogo
  • Lista alfabética
  • Explore Channels
  • Reservas de curso
  • Novos exemplares

Necesita Axuda?

  • Consello de procura
  • Consulte a un Bibliotecario
  • Preguntas Frecuentes