Անցեք բովանդակությանը
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Լեզու
Բոլոր դաշտերը
Վերնագիր
Հեղինակ
Խորագիր
Դասիչ
ISBN/ISSN
Ցուցիչ
Գտեք
Ընդլայնված
Direct and indirect electron m...
Վկայակոչեք սա
Գրեք սա
Էլփոստով ուղարկեք սա
Տպել
Արտահանել գրառումը
Արտահանել դեպի RefWorks
Արտահանել դեպի EndNoteWeb
Արտահանել դեպի EndNote
Մշտական հղում
Direct and indirect electron microscopy of encapsulated nanocrystals
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:
Kirkland, A
,
Sloan, J
Ձևաչափ:
Journal article
Հրապարակվել է:
2002
Պահումներ
Նկարագրություն
Նմանատիպ նյութեր
Աշխատակազմի տեսք
Նկարագրություն
Ամփոփում:
Նմանատիպ նյութեր
Structural characterization of atomically regulated nanocrystals formed within single-walled carbon nanotubes using electron microscopy.
: Sloan, J, և այլն
Հրապարակվել է: (2002)
Indirect Super Resolved Microscopy in the TEM.
: Kirkland, A
Հրապարակվել է: (1999)
"Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: Aberration measurement and wavefunction reconstruction
: Kirkland, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2004)
"Indirect" high-resolution transmission electron microscopy: aberration measurement and wavefunction reconstruction.
: Kirkland, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2004)
Indirect transmission electron microscopy; Aberration measurement and compensation and exit wave reconstruction
: Kirkland, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2004)