Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
ELECTRON MICROSCOPY Atomic res...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
ELECTRON MICROSCOPY Atomic resolution comes into phase
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας:
Nellist, P
Μορφή:
Journal article
Έκδοση:
2012
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Subangstrom resolution by underfocused incoherent transmission electron microscopy
ανά: Nellist, P, κ.ά.
Έκδοση: (1998)
Atomic resolution imaging of graphene by transmission electron microscopy.
ανά: Robertson, A, κ.ά.
Έκδοση: (2013)
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
ανά: Nellist, P, κ.ά.
Έκδοση: (1995)
Rapid estimation of catalyst nanoparticle morphology and atomic-coordination by high-resolution Z-contrast electron microscopy.
ανά: Jones, L, κ.ά.
Έκδοση: (2014)
Origin of the spatial resolution in atom probe microscopy
ανά: Gault, B, κ.ά.
Έκδοση: (2009)