ELECTRON MICROSCOPY Atomic resolution comes into phase

ELECTRON MICROSCOPY Atomic resolution comes into phase

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Nellist, P
פורמט:	Journal article
יצא לאור:	2012

פריטים דומים

Subangstrom resolution by underfocused incoherent transmission electron microscopy
מאת: Nellist, P, et al.
יצא לאור: (1998)

Atomic resolution imaging of graphene by transmission electron microscopy.
מאת: Robertson, A, et al.
יצא לאור: (2013)

RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
מאת: Nellist, P, et al.
יצא לאור: (1995)

Rapid estimation of catalyst nanoparticle morphology and atomic-coordination by high-resolution Z-contrast electron microscopy.
מאת: Jones, L, et al.
יצא לאור: (2014)

Origin of the spatial resolution in atom probe microscopy
מאת: Gault, B, et al.
יצא לאור: (2009)

Learning motifs and their hierarchies in atomic resolution microscopy
מאת: Dan, Jiadong, et al.
יצא לאור: (2023)

Bloch wave analysis of depth dependent strain effects in high resolution electron microscopy
מאת: Nellist, P, et al.
יצא לאור: (2008)

High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
מאת: Pennycook, TJ, et al.
יצא לאור: (2018)

Atomic-resolution electron microscopy of nanoscale local structure in lead-based relaxor ferroelectrics
מאת: Kumar, Abinash, et al.
יצא לאור: (2020)

Atom sieve for nanometer resolution neutral helium microscopy
מאת: Flatabø, Ranveig, et al.
יצא לאור: (2020)

Atomic resolution Z-contrast imaging of ultradispersed catalysts
מאת: Nellist, P, et al.
יצא לאור: (1997)

Experimental high-resolution electron microscopy /
מאת: 233349 Spence, John C. H.
יצא לאור: (1988)

Experimental high-resolution electron microscopy /
מאת: 233349 Spence, John C. H.
יצא לאור: (1981)

Spatial differentiation of aluminium siting by the single-atom adsorption sites in zeolite by electron microscopy
מאת: Ho, P-LB, et al.
יצא לאור: (2022)

Evolution of the Solid–Electrolyte Interphase on Carbonaceous Anodes Visualized by Atomic-Resolution Cryogenic Electron Microscopy
מאת: Huang, William, et al.
יצא לאור: (2022)

Evolution of the Solid–Electrolyte Interphase on Carbonaceous Anodes Visualized by Atomic-Resolution Cryogenic Electron Microscopy
מאת: Huang, William, et al.
יצא לאור: (2021)

Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
מאת: Kirkland, A, et al.
יצא לאור: (2008)

Z-contrast scanning transmission electron microscopy
מאת: Pennycook, S, et al.
יצא לאור: (1999)

Deterministic electron ptychography at atomic resolution
מאת: D'Alfonso, A, et al.
יצא לאור: (2014)

Single atom detection from low contrast-to-noise ratio electron microscopy images
מאת: Fatermans, J, et al.
יצא לאור: (2018)

Measuring isoplanaticity in high-resolution electron microscopy
מאת: Meyer, R, et al.
יצא לאור: (2004)

High-resolution electron microscopy of dislocation geometries
מאת: Holmes, S
יצא לאור: (1975)

High-resolution electron microscopy and associated techniques/
מאת: Cowley, J. M. (John Maxwell), 1923-, et al.
יצא לאור: (1988)

Measuring dynamic structural changes of nanoparticles at the atomic scale using scanning transmission electron microscopy
מאת: De Wael, A, et al.
יצא לאור: (2020)

Chapter 8 Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
מאת: Kirkland, A, et al.
יצא לאור: (2008)

Direct structure determination by atomic-resolution incoherent STEM imaging
מאת: Nellist, P, et al.
יצא לאור: (1997)

AN INVESTIGATION OF A RAPIDLY SOLIDIFIED AL-CR ALLOY USING FIELD-ION MICROSCOPY ATOM PROBE ANALYSIS AND HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY
מאת: Shollock, B, et al.
יצא לאור: (1988)

Zernike Phase Contrast Cryo-Electron Microscopy and Tomography for Structure Determination at Nanometer and Subnanometer Resolutions
מאת: Murata, Kazuyoshi, et al.
יצא לאור: (2015)

Calculations of limited coherence for high resolution electron microscopy
מאת: Chang, L, et al.
יצא לאור: (2004)

Control of knock-on damage for 3D atomic scale quantification of nanostructures: Making every electron count in scanning transmission electron microscopy
מאת: Van Aert, S, et al.
יצא לאור: (2019)

High-resolution electron microscopy studies of non-graphitizing carbons
מאת: Harris, P, et al.
יצא לאור: (1997)

High-resolution electron microscopy studies of non-graphitizing carbons
מאת: Harris, P, et al.
יצא לאור: (1997)

HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY OF TUBULE-CONTAINING GRAPHITIC CARBON
מאת: Harris, P, et al.
יצא לאור: (1993)

High-resolution electron microscopy of tubule-containing graphitic carbon
מאת: Harris, P, et al.
יצא לאור: (1993)

New possibilities with aberration-corrected electron microscopy.
מאת: Cockayne, D, et al.
יצא לאור: (2009)

High-yield monolayer graphene grids for near-atomic resolution cryoelectron microscopy
מאת: Han, Yimo, et al.
יצא לאור: (2022)

High-yield monolayer graphene grids for near-atomic resolution cryoelectron microscopy
מאת: Han, Yimo, et al.
יצא לאור: (2021)

High spatial and temporal resolution synthetic aperture phase microscopy
מאת: Zheng, Cheng, et al.
יצא לאור: (2022)

Efficient phase contrast imaging in STEM using a pixelated detector. Part 1: Experimental demonstration at atomic resolution.
מאת: Pennycook, T, et al.
יצא לאור: (2014)

High-Resolution Atom Interferometers with Suppressed Diffraction Phases
מאת: Estey, Brian, et al.
יצא לאור: (2015)