Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
DEEP STATES ASSOCIATED WITH PL...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
DEEP STATES ASSOCIATED WITH PLATINUM DECORATED STACKING-FAULTS IN SILICON
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
Lahiji, G
,
Peaker, A
,
Hamilton, B
Format:
Conference item
Publicat:
1989
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
Deep-Learning Based Depth-Tracking of Stacking-Faults in Epitaxially Grown Silicon Wafers
per: Theresa Trötschler, et al.
Publicat: (2025-02-01)
GETTERING OF COPPER TO OXIDATION INDUCED STACKING-FAULTS IN SILICON
per: Decoteau, M, et al.
Publicat: (1990)
ELECTRICAL BEHAVIOUR OF INDIVIDUAL DISLOCATIONS, SHOCKLEY PARTIALS AND STACKING FAULT RIBBONS IN SILICON.
per: Ourmazd, A, et al.
Publicat: (1982)
THE ELECTRICAL BEHAVIOR OF INDIVIDUAL DISLOCATIONS, SHOCKLEY PARTIALS AND STACKING-FAULT RIBBONS IN SILICON
per: Ourmazd, A, et al.
Publicat: (1983)
Identification of stacking faults in silicon carbide by polarization-resolved second harmonic generation microscopy
per: Radu Hristu, et al.
Publicat: (2017-07-01)