Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
DEEP STATES ASSOCIATED WITH PL...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
DEEP STATES ASSOCIATED WITH PLATINUM DECORATED STACKING-FAULTS IN SILICON
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:
Lahiji, G
,
Peaker, A
,
Hamilton, B
Médium:
Conference item
Vydáno:
1989
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Podobné jednotky
Deep-Learning Based Depth-Tracking of Stacking-Faults in Epitaxially Grown Silicon Wafers
Autor: Theresa Trötschler, a další
Vydáno: (2025-02-01)
GETTERING OF COPPER TO OXIDATION INDUCED STACKING-FAULTS IN SILICON
Autor: Decoteau, M, a další
Vydáno: (1990)
ELECTRICAL BEHAVIOUR OF INDIVIDUAL DISLOCATIONS, SHOCKLEY PARTIALS AND STACKING FAULT RIBBONS IN SILICON.
Autor: Ourmazd, A, a další
Vydáno: (1982)
THE ELECTRICAL BEHAVIOR OF INDIVIDUAL DISLOCATIONS, SHOCKLEY PARTIALS AND STACKING-FAULT RIBBONS IN SILICON
Autor: Ourmazd, A, a další
Vydáno: (1983)
Identification of stacking faults in silicon carbide by polarization-resolved second harmonic generation microscopy
Autor: Radu Hristu, a další
Vydáno: (2017-07-01)