Saltar al contenido
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Lenguaje
Todos los Campos
Título
Autor
Materia
Número de Clasificación
ISBN/ISSN
Etiqueta
Buscar
Avanzado
DEEP STATES ASSOCIATED WITH PL...
Citar
Describir
Enviar este por Correo electrónico
Imprimir
Exportar Registro
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enlace Permanente
DEEP STATES ASSOCIATED WITH PLATINUM DECORATED STACKING-FAULTS IN SILICON
Detalles Bibliográficos
Autores principales:
Lahiji, G
,
Peaker, A
,
Hamilton, B
Formato:
Conference item
Publicado:
1989
Existencias
Descripción
Ejemplares similares
Vista Equipo
Ejemplares similares
Deep-Learning Based Depth-Tracking of Stacking-Faults in Epitaxially Grown Silicon Wafers
por: Theresa Trötschler, et al.
Publicado: (2025-02-01)
GETTERING OF COPPER TO OXIDATION INDUCED STACKING-FAULTS IN SILICON
por: Decoteau, M, et al.
Publicado: (1990)
ELECTRICAL BEHAVIOUR OF INDIVIDUAL DISLOCATIONS, SHOCKLEY PARTIALS AND STACKING FAULT RIBBONS IN SILICON.
por: Ourmazd, A, et al.
Publicado: (1982)
THE ELECTRICAL BEHAVIOR OF INDIVIDUAL DISLOCATIONS, SHOCKLEY PARTIALS AND STACKING-FAULT RIBBONS IN SILICON
por: Ourmazd, A, et al.
Publicado: (1983)
Identification of stacking faults in silicon carbide by polarization-resolved second harmonic generation microscopy
por: Radu Hristu, et al.
Publicado: (2017-07-01)