Pular para o conteúdo
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Todos os campos
Título
Autor
Assunto
Número de Chamada
ISBN/ISSN
Tag
Buscar
Avançada
Electronic contribution to sec...
Citar
Enviar por SMS
Enviar por e-mail
Imprimir
Exportar registro
Exportar para RefWorks
Exportar para EndNoteWeb
Exportar para EndNote
Link permanente
Electronic contribution to secondary electron compositional contrast in the scanning electron microscope
Detalhes bibliográficos
Principais autores:
Castell, M
,
Perovic, D
,
Lafontaine, H
Formato:
Journal article
Publicado em:
1997
Itens
Descrição
Registros relacionados
Registro fonte
Descrição
Resumo:
Registros relacionados
Quantitative imaging of semiconductor doping distributions using a scanning electron microscope
por: Perovic, D, et al.
Publicado em: (1998)
Doping layer imaging in the field-emission scanning electron microscope
por: Perovic, D, et al.
Publicado em: (1994)
Coupling Clustering and Channeling Contrast in the Scanning Electron Microscope
por: Sahoo Sudeep Kumar, et al.
Publicado em: (2024-01-01)
BACKSCATTERED ELECTRON CONTRAST ON CROSS-SECTIONS OF INTERFACES AND MULTILAYERS IN THE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE
por: Konkol, A, et al.
Publicado em: (1995)
The scanning electron microscope /
por: 454756 Oatley, Charles William
Publicado em: (1972)