تخطي إلى المحتوى
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
اللغة
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
Electronic contribution to sec...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
رابط دائم
Electronic contribution to secondary electron compositional contrast in the scanning electron microscope
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:
Castell, M
,
Perovic, D
,
Lafontaine, H
التنسيق:
Journal article
منشور في:
1997
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
مواد مشابهة
Quantitative imaging of semiconductor doping distributions using a scanning electron microscope
حسب: Perovic, D, وآخرون
منشور في: (1998)
Doping layer imaging in the field-emission scanning electron microscope
حسب: Perovic, D, وآخرون
منشور في: (1994)
Coupling Clustering and Channeling Contrast in the Scanning Electron Microscope
حسب: Sahoo Sudeep Kumar, وآخرون
منشور في: (2024-01-01)
BACKSCATTERED ELECTRON CONTRAST ON CROSS-SECTIONS OF INTERFACES AND MULTILAYERS IN THE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE
حسب: Konkol, A, وآخرون
منشور في: (1995)
The scanning electron microscope /
حسب: 454756 Oatley, Charles William
منشور في: (1972)