Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
Electronic contribution to sec...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
Electronic contribution to secondary electron compositional contrast in the scanning electron microscope
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
Castell, M
,
Perovic, D
,
Lafontaine, H
Format:
Journal article
Publicat:
1997
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
Quantitative imaging of semiconductor doping distributions using a scanning electron microscope
per: Perovic, D, et al.
Publicat: (1998)
Doping layer imaging in the field-emission scanning electron microscope
per: Perovic, D, et al.
Publicat: (1994)
Coupling Clustering and Channeling Contrast in the Scanning Electron Microscope
per: Sahoo Sudeep Kumar, et al.
Publicat: (2024-01-01)
BACKSCATTERED ELECTRON CONTRAST ON CROSS-SECTIONS OF INTERFACES AND MULTILAYERS IN THE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE
per: Konkol, A, et al.
Publicat: (1995)
The scanning electron microscope /
per: 454756 Oatley, Charles William
Publicat: (1972)